企业商机

激光光刻胶厂家

作为中国半导体材料领域的企业，吉田半导体材料有限公司始终以自研自产为战略，通过 23 年技术沉淀与持续创新，成功突破...

光刻胶基本参数

品牌
吉田半导体
型号
型号齐全

光刻胶企业商机

作为中国半导体材料领域的企业，吉田半导体材料有限公司始终以自研自产为战略，通过 23 年技术沉淀与持续创新，成功突破多项 “卡脖子” 技术，构建起从原材料到成品的全链条国产化能力。其自主研发的光刻胶产品已覆盖芯片制造、显示面板、精密电子等领域，为国内半导体产业链自主化提供关键支撑。

吉田半导体依托自主研发中心与产学研合作，在光刻胶领域实现多项技术突破：

YK-300 正性光刻胶：分辨率达 0.35μm，线宽粗糙度（LWR）≤3nm，适用于 45nm 及以上制程，良率达 98% 以上，成本较进口产品降低 40%，已通过中芯国际量产验证。
SU-3 负性光刻胶：支持 3μm 厚膜加工，抗深蚀刻速率 > 500nm/min，成功应用于高通 5G 基带芯片封装，良率提升至 98.5%。
JT-2000 纳米压印光刻胶：突破 250℃耐高温极限，图形保真度 > 95%，性能对标德国 MicroResist 系列，已应用于国产 EUV 光刻机前道工艺。

光刻胶：半导体之路上的挑战与突破。激光光刻胶厂家

差异化竞争策略

在高级市场（如ArF浸没式光刻胶），吉田半导体采取跟随式创新，通过优化现有配方（如提高酸扩散抑制效率）逐步缩小与国际巨头的差距；在中低端市场（如PCB光刻胶），则凭借性价比优势（价格较进口产品低20%-30%）快速抢占份额，2023年PCB光刻胶市占率突破10%。

前沿技术储备

公司设立纳米材料研发中心，重点攻关分子玻璃光刻胶和金属有机框架（MOF）光刻胶，目标在5年内实现EUV光刻胶的实验室级突破。此外，其纳米压印光刻胶已应用于3D NAND存储芯片的孔阵列加工，分辨率达10nm，为国产存储厂商提供了替代方案。

激光光刻胶厂家光刻胶厂家推荐吉田半导体，23 年专注研发，全系列产品覆盖芯片制造与 LCD 面板！

定义与特性

正性光刻胶是一种在曝光后，曝光区域会溶解于显影液的光敏材料，形成与掩膜版（Mask）图案一致的图形。与负性光刻胶（未曝光区域溶解）相比，其优势是分辨率高、图案边缘清晰，是半导体制造（尤其是制程）的主流选择。

化学组成与工作原理

主要成分

• 树脂（成膜剂）：

◦ 传统正性胶：采用**酚醛树脂（Novolak）与重氮萘醌（DNQ，光敏剂）**的复合体系（PAC体系），占比约80%-90%。

◦ 化学增幅型（用于DUV/EUV）：含环化烯烃树脂或含氟聚合物，搭配光酸发生器（PAG），通过酸催化反应提高感光度和分辨率。

• 溶剂：溶解树脂和感光剂，常用丙二醇甲醚醋酸酯（PGMEA）或乳酸乙酯。

• 添加剂：表面活性剂（改善涂布均匀性）、稳定剂（防止暗反应）、碱溶解度调节剂等。

工作原理

• 曝光前：光敏剂（如DNQ）与树脂结合，形成不溶于碱性显影液的复合物。

• 曝光时：

◦ 传统PAC体系：DNQ在紫外光（G线436nm、I线365nm）照射下发生光分解，生成羧酸，使曝光区域树脂在碱性显影液中溶解性增强。

◦ 化学增幅型：PAG在DUV/EUV光下产生活性酸，催化树脂发生脱保护反应，大幅提高显影速率（灵敏度提升10倍以上）。

• 显影后：曝光区域溶解去除，未曝光区域保留，形成正性图案。

半导体集成电路

• 应用场景：

◦ 晶圆制造：正性胶为主（如ArF/EUV胶），实现20nm以下线宽，用于晶体管栅极、接触孔等精细结构；

◦ 封装工艺：负性胶用于凸点（Bump）制造，厚胶（5-50μm）耐电镀溶液腐蚀。

• 关键要求：高分辨率、低缺陷率、耐极端工艺（如150℃以上高温、等离子体轰击）。

印刷电路板（PCB）

• 应用场景：

◦ 线路成像：负性胶（如环化橡胶胶）用于双面板/多层板外层线路，线宽≥50μm，耐碱性蚀刻液（如氯化铜）；

◦ 阻焊层：厚负性胶（50-100μm）覆盖非焊盘区域，耐260℃焊接温度和助焊剂腐蚀；

◦ 挠性PCB（FPC）：正性胶用于精细线路（线宽≤20μm），需耐弯曲应力。

• 优势：工艺简单、成本低，适合大面积基板（如1.2m×1.0m的PCB基板）。

平板显示

• 应用场景：

◦ 彩色滤光片：正性胶制作黑矩阵（BM）和RGB色阻间隔层，耐UV固化和湿法蚀刻（如HF溶液）；

◦ OLED像素定义：负性胶形成像素开口（孔径5-50μm），耐有机溶剂（如OLED蒸镀前的清洗液）；

◦ 触控面板：正性胶制作透明电极（如ITO线路），线宽≤10μm，需透光率＞90%。

• 关键参数：高透光性、低收缩率（避免图案变形）。

负性光刻胶生产厂家。

技术挑战与发展趋势

更高分辨率需求：

◦ EUV光刻胶需解决“线边缘粗糙度（LER）”问题（目标＜5nm），通过纳米颗粒分散技术或新型聚合物设计改善。

缺陷控制：

◦ 半导体级正性胶要求金属离子含量＜1ppb，颗粒（＞50nm）＜1个/mL，需优化提纯工艺（如多级过滤+真空蒸馏）。

国产化突破：

◦ 国内企业（如上海新阳、南大光电、容大感光）已在KrF/ArF胶实现批量供货，但EUV胶仍被日本JSR、美国陶氏、德国默克垄断，需突破树脂合成、PAG纯度等瓶颈。

环保与节能：

◦ 开发水基显影正性胶（减少有机溶剂使用），或低烘烤温度胶（降低半导体制造能耗）。

典型产品示例

• 传统正性胶：Shipley S1813（G/I线，用于PCB）、Tokyo Ohka TSM-305（LCD黑矩阵）。

• DUV正性胶：信越化学的ArF胶（用于14nm FinFET制程）、中芯国际认证的国产KrF胶（28nm节点）。

• EUV正性胶：JSR的NeXAR系列（7nm以下，全球市占率超70%）。

正性光刻胶是推动半导体微缩的主要材料，其技术进步直接关联芯片制程的突破，未来将持续向更高精度、更低缺陷、更绿色工艺演进。

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原料准备

◦ 主要成分：树脂（成膜剂，如酚醛树脂、聚酰亚胺等）、感光剂（光引发剂或光敏化合物，如重氮萘醌、光刻胶单体）、溶剂（溶解成分，如丙二醇甲醚醋酸酯（PGMEA））、添加剂（调节粘度、感光度、稳定性等，如表面活性剂、稳定剂）。

◦ 原料提纯：对树脂、感光剂等进行高纯度精制（纯度通常要求99.9%以上），避免杂质影响光刻精度。

配料与混合

◦ 按配方比例精确称量各组分，在洁净环境，如万中通过搅拌机均匀混合，形成胶状溶液。

◦ 控制温度（通常20-30℃）和搅拌速度，避免气泡产生或成分分解。

过滤与纯化

◦ 使用纳米级滤膜（孔径0.05-0.2μm）过滤，去除颗粒杂质（如金属离子、灰尘），确保胶液洁净度，避免光刻时产生缺陷。

性能检测

◦ 物理指标：粘度、固含量、表面张力、分子量分布等，影响涂布均匀性。

◦ 化学指标：感光度、分辨率、对比度、耐蚀刻性，通过曝光实验和显影测试验证。

◦ 可靠性：存储稳定性（常温/低温保存下的性能变化）、耐温性（烘烤过程中的抗降解能力）。

包装与储存

◦ 在惰性气体（如氮气）环境下分装至避光容器（如棕色玻璃瓶或铝罐），防止感光剂氧化或光分解。

◦ 储存条件：低温（5-10℃）、避光、干燥，部分产品需零下环境（如EUV光刻胶）。

激光光刻胶厂家

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