F50系列包含的内容：集成光谱仪/光源装置光纤电缆4",6"and200mm参考晶圆TS-SiO2-4-7200厚度标准BK7参考材料整平滤波器(用于高反射基板)真空泵备用灯型号厚度范围*波长范围F5...

LFS-2传感器测量两个轴的水平加速度，直至频率为约0.2Hz传感器直接放置在地板上，并用于前馈回路中与标准AVI/LP系统结合使用，可在非常低的情况下提高隔振效果频率。LFS-2可以改装为现有的AV...

EVG®620BA键合机选件 自动对准 红外对准，用于内部基板键对准 NanoAlign®包增强加工能力 可与系统机架一起使用 掩模对准器的升级可能性 技术数据 常规系统配置 桌面 系统机架：可选 隔...

晶圆缺陷检测光学系统通常采用一些算法和标准来判定晶圆表面的缺陷，从而实现良品和次品的判定。常用的做法包括以下几个步骤：1、图像获取：使用高分辨率的成像传感器对晶圆进行成像，以获取晶圆表面的图像信息。2...

晶圆缺陷检测设备市场前景广阔，主要原因如下：1、半导体产业的快速发展：随着半导体产业的高速发展，晶圆缺陷检测设备的需求也在不断增长。特别是随着5G、人工智能、物联网等新兴技术的发展，晶圆缺陷检测设备的...

高精度电容位移传感器的检验方法：1. 周期测试：周期测试适用于周期性运动的测量，如机械运动和振动等。可以通过将测量头与参考物固定，然后测量周期性运动的特性，如频率、振幅和相位等，并记录其变化过程，以检...

厚度测量产品：我们的膜厚测量产品可适用于各种应用。我们大部分的产品皆備有库存以便快速交货。请浏览本公司网页产品资讯或联系我们的应用工程师针对您的厚度测量需求提供立即协助。单点厚度测量：一键搞定的薄膜厚...

电阻率测量仪使用方法：1. 将被测材料放置在测试仪器上，并确保测试仪器与被测样品的接触良好。2. 打开电阻率测量仪的电源，按照设备操作说明将测试参数输入设备，并将测试参数调整到所需范围和准确度。3. ...

电阻率测量仪使用的探针需要具备哪些特征？1. 电极间间隔小：电阻率测量仪采用四线法，因此探针需要具备足够的细小结构，以保证测量时电极间的间隔足够小。2. 稳定性好：探针的结构需要稳定，以确保在长时间使...

支撑面测试在系统运行时，推动支撑表面。灯不亮，除了可能会大力推动。如果可以轻松使灯点亮，则支撑表面刚度不足以获得充分的性能。确定支撑表面是否起反应对水平或垂直力施加更大的作用，并尝试适当地使结构变硬。...

NanoX-系列产品PCB测量应用测试案例测量种类◼基板ASoldMask3D形貌、尺寸◼基板ASoldMask粗糙度◼基板A绿油区域3D形貌◼基板A绿油区域Pad粗糙度◼基板A绿油区域粗糙度◼基板A...

轮廓仪，能描绘工件表面波度与粗糙度，并给出其数值的仪器，采用精密气浮导轨为直线基准。轮廓测试仪是对物体的轮廓、二维尺寸、二维位移进行测试与检验的仪器，作为精密测量仪器，在汽车制造和铁路行业的应用十分广...