1、使用2mm内六角扳手（包括在内）拆下模块端板。2、根据扫描电镜的重量调整模块。在每个中心柱上的横梁上方和下方应该有一个间隙，允许每侧大约有2mm的行程。B、使用M6活动扳手（包括）转动位于支撑弹簧...

晶圆缺陷检测光学系统需要注意哪些安全事项？1、光学系统应该放置在安全的地方，避免被人员误碰或者撞击。2、在使用光学系统时，必须戴好安全眼镜，避免红外线和紫外线对眼睛的伤害。3、在清洁光学系统时，必须使...

高精度电容位移传感器是一种测量物体相对位置变化的传感器，它通过在物体周围放置电极并测量电极之间的电容值变化来测量物体的位置变化。这种传感器具有高精度、高分辨率和高灵敏度的特点。它可以测量微小的位移变化...

轮廓仪是一种两坐标测量仪器，仪器传感器相对被测工件表而作匀速滑行，传感器的触针感受到被测表而的几何变化，在X和Z方向分别采样，并转换成电信号，该电信号经放大和处理，再转换成数字信号储存在计算机系统的存...

电阻率测量仪在工业生产中具有非接触式测试、测量快速、准确、避免破坏、便携移动性强、适用范围广等方面的优势，使得其应用范围普遍，成为工业生产中不可或缺的工具之一。在使用电阻率测量仪时，需要严格遵守操作规...

晶圆缺陷检测光学系统的创新发展趋势有哪些？1、光学和图像技术的创新：晶圆缺陷检测光学系统需要采用更先进的图像和光学技术以提高检测效率和准确性。例如，采用深度学习、图像增强和超分辨率等技术来提高图像的清...

晶圆缺陷自动检测设备该如何使用？1、准备晶圆：在使用设备之前，需要将待检测的晶圆进行清洗和处理，以确保表面干净且无污染。2、安装晶圆：将晶圆放置在设备的台面上，并根据设备的操作手册进行正确的安装。3、...

典型晶圆缺陷检测设备的工作原理：1、光学检测原理：使用光学显微镜等器材检测晶圆表面缺陷，包括凹坑、裂纹、污染等。2、电学检测原理：通过电流、电压等电学参数对晶圆进行检测，具有高灵敏度和高精度。3、X光...

晶圆缺陷检测光学系统相比传统的检测方法具有以下优势：1、高效性：晶圆缺陷检测光学系统能够实现自动化检测，大幅提高了检测效率和准确性。2、精度高：晶圆缺陷检测光学系统采用高分辨率的光学成像技术，可以对微...

薄膜应力分析仪是一种用于测量薄膜材料应力和形变的仪器，具有非常普遍的应用领域，包括半导体/ 光电 /液晶面板产业等。它可以用来控制和优化薄膜材料的生产过程，研究薄膜材料的力学性能、稳定性以及涂层和微结...

晶圆缺陷自动检测设备是一种专门用于检测半导体晶圆表面缺陷的设备，它主要通过光学成像技术和图像处理算法来实现缺陷检测。具体的功能包括：1、晶圆表面缺陷检测：对晶圆表面进行成像，并使用图像处理算法来自动检...

TS-300结合了久经考验的技术特点和优雅且用户友好的设计TS-300的隔离始于0.7Hz，超过10Hz时迅速增加至40dB缺少低频谐振意味着比大多数常见的被动空气阻尼方法要好得多TS系统的固有刚度赋...