北京电子厂房环境检测

B.3.3.3.3飞行时间粒径测量大粒子的尺寸可用飞行时间仪来测量。空气样本抽人仪器,经喷嘴进人一个局部真空区,空气因膨胀而加速,测量在真空区进行。空气样本中的所有粒子均在测量区加速,粒子的加速度与粒子质量成反比。利用测量点的风速与粒子速度两者的关系,可测定粒子的空气动力学直径。知道环境与测量区之间气压的压差,可直接计算出风速。根据粒子在两束激光间的飞行时间测定粒子速度。飞行时间仪可测量大到20μm粒子的空气动力学直径,粒径分辨率好于10%。获取样本的方法与离散粒子计数器测量相同;确定粒径范围的方法也与离散粒子计数器相同。噪音水平检测有助于评估洁净室内的工作环境舒适度。北京电子厂房环境检测

D.3.2静压差测试，应符合下列规定：1静压差的测定应在所有的门关闭时进行。2仪器宜采用各种型式的微压计，仪表灵敏度应小于1.0Pa。3洁净厂房有多个洁净室（区)时，应从**里面的房间与相邻房间的压差测试开始，并应按顺序向外进行检测。D.3.3已安装的空气过滤器泄漏测试，应符合下列规定：1仪器应使用采样量大于11/mn的光学粒子计数器。2应在过滤器上风侧引入大于等于0.1um(0.5um)粒子，粒子浓度应大于3.5×10P/m³的大气尘或其他气溶胶；在过滤器下风侧应用粒子计数器的等动力采样头放在距离被检过滤器表面20~30mm处，并应以5~20mm/s速度移动。应检测包括过滤器的整个面和过滤器周边、过滤器框架及其密封处的扫描。上海电子厂房环境检测认真负责不同等级的洁净室、洁净室与非洁净室或洁净室与室外之间均应保持一定的正压值。

洁净室或洁净设施温、湿度测定，通常分为两个档次：一般测试和综合测试。一个档次适用于处于空态的交竣验收测试，第二个档次适用于静态或动态的综合性能测试。这类测试适用于对温度、湿度性能要求比较严格的场合。本检测在气流均匀性检测之后和空调系统调整之后进行。进行这项检测时，空调系统已经充分运转，各项状况已经稳定。每个湿度区至少设置一个湿度传感器，并且给传感器充分的稳定时间。所做测量应适合实际使用的目的，待传感器稳定之后才开始测量，测量时间不少于5分钟。

洁净室竣工验收的外观检查应符合以下要求1、各种管道、自动灭火装置及净化空调设备空调器、风机、净化空调机组、高效空气过滤器和空气吹淋室等的安装应正确、牢固、严密其偏差应符合有关规定。2、高、中效空气过滤器与支撑框架的连接及风管与设备的连接处应有可靠密封。3、各类调节装置应严密、调节灵活、操作方便。4、净化空调箱、静压箱、风管系统及送、回风口无灰尘。5、洁净室的内墙面、顶棚表面和地面应光滑、平整、色泽均匀不起灰尘地板无静电现象。6、送回风口及各类末端装置、各类管道、照明和动力线配管以及工艺设备等穿越洁净室时穿越处的密封处理应严密可靠。7、洁净室内各类配电盘、柜和进入洁净室的电气管线、管口应密封可靠。8各种刷涂、保温工作应符合有关规定。主要工作室一般照明的照度值宜为3001x。

1.适用范围此程序适用于高效过滤器完整性测试(俗称高效过滤器检漏)。2.高效过滤器检漏原理通过气溶胶光度计测定上下游粒子的浓度，得出泄漏率的大小。3.仪器设备气溶胶发生器气溶胶光度计供气软管耗材:PAO(EMERY3004)高效过滤器检漏价格?高效过滤器检漏按照高效过滤器数量进行收费，过滤器分为液槽式过滤器和隔板式过滤器，一般检测时采用冷发收费较贵而采用热发收费较为优惠，具体报价请联系旦霆科技销售顾问。高效过滤器检漏周期?高效过滤器检漏周期一般按照GB规定每1年进行高效过滤器检漏一次4.高效过滤器完整性测试方法/高效过滤器检漏方法/高效过滤器DOP检漏方法操作步骤预检查①对于非层流区域-关闭HVAC的风机。-拆除中效过滤器。-将气溶胶发生器放置于机组的负压段。②对于层流单元-发烟位置靠近回风口，风机进风口或专门的气溶胶发烟口。-找到高效过滤器前的测试软管或测试孔，如果没有测试孔，可在空调机组的压力表处测试上游浓度。-将光度计内部参数调节至100。高效过滤器完整性测试(高效检漏)-扫描HEPA的表面及其边框。-对球型结构，直接将高效过滤器的软管或洞与光度计下游通道相连。高效过滤器完整性测试(高效检漏)测试程序-接通电源，温度升至400??C。洁净室检测需考虑季节性变化对环境参数的影响。江苏口罩生产车间环境检测方便客户

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B.2.1.2计数效率测量U描述符所用体系的计数效率应落在图B.1的阴影之内[1]。该阴影区为性能达标区，其中心对应的选定粒径超微粒子的计数效率为50%，粒径示为U。超微粒径U的允差为土10%，见图B.1中的1.1U和0.9U。这一计数效率允差的规定，是基于对扩散元件透过率的计算，该扩散元件对粒径大于选定超微粒径10%的粒子的透过率不低于40%，对粒径小于选定超微粒径10%的粒子的透过率不高于60%。若离散粒子计数器（DPC）或凝聚核计数器（CNC）的计数效率曲线落在图B.1阴影区之外的右侧，则不能用其测量或验证U描述符。若曲线落在阴影区之外的左侧，则可使用B.2.1.3介绍的粒径限制器来降低计数效率。此时，经改进的离散粒子计数器或凝聚核计数器的计数效率就成为原计数器的计数效率与粒径限制器透过率的乘积。北京电子厂房环境检测