液晶屏接口类型有LVDS接口、MIPIDSIDSI接口(下文只讨论液晶屏LVDS接口,不讨论其它应用的LVDS接口,因此说到LVDS接口时无特殊说明都是指液晶屏LVDS接口),它们的主要信号成分都是5组差分对,其中1组时钟CLK,4组DATA(MIPIDSI接口中称之为lane),它们到底有什么区别,能直接互联么?在网上搜索“MIPIDSI接口与LVDS接口区别”找到的答案基本上是描述MIPIDSI接口是什么,LVDS接口是什么,没有直接回答该问题。深入了解这些资料后,有了一些眉目,整理如下。首先,两种接口里面的差分信号是不能直接互联的,准确来说是互联后无法使用,MIPIDSI转LVDS比较简单,有现成的芯片,例如ICN6201、ZA7783;LVDS转MIPIDSI比较复杂暂时没看到通用芯片,基本上是特制模块,而且原理也比较复杂。其次,它们的主要区别总结为两点:1、LVDS接口只用于传输视频数据,MIPIDSI不仅能够传输视频数据,还能传输控制指令;2、LVDS接口主要是将RGBTTL信号按照SPWG/JEIDA格式转换成LVDS信号进行传输,MIPIDSI接口则按照特定的握手顺序和指令规则传输屏幕控制所需的视频数据和控制数据。Global Operation的测试;DDR测试MIPI测试PCI-E测试
MIPI显示器工作组DickLawrence在一份声明中称,“这一标准给从简单的低端设备、到高复杂性的智能电话、再到更大型手持平台的移动系统带给重大好处。移动产业一直期待着统一到一种开放标准上,而SDI提供了驱动这一转变的强制性技术。
串行接口一般采用差分结构,利用几百mV的差分信号,在收发端之间传送数据。串行比并行相比:更节省PCB板的布线面积,增强空间利用率;差分信号增强了自身的EMI抗干扰能力,同时减少了对其他信号的干扰;低的电压摆幅可以做到更高的速度,更小的功耗. DDR测试MIPI测试PCI-E测试mipi测试,MIPI信号完整性测试,眼图测试,时钟抖动测试;
对于MIPI模组或芯片的测试可以根据MIPI协会推荐的方法设计评估板TVB(TesVehicleBoard)并结合协会提供的RTB(RefererTerminationBoard)进行信号测试,TVB板的设计可以参考MIPI协会提供的PCB文件,根据用户要测试的模组或芯片的具体布线要求稍作修改,目的是把被测的MIPI信号转成标准SMA接口的输出,并通过SMA电缆连接到RTB板上。RTB板可以从MIPI协会购买,上面除了可以引出信号到插针上方便测试以外,还可以根据HS和LP模式的不同切换负载的匹配,并根据需要模拟不同的容性负载,以方便进行不同情况下的信号测试。而对于系统厂商(如手机厂商等)来说,由于系统设计已经完成,要进行MIPI的信号测试只能使用焊接或点测探头连接PCB上的实际信号进行测试,进行系统间MIPD-PHY信号测试的典型连接图。
(3)HS信号电平判决和建立/保持时间容限(GROUP3:HS-RXVOLTAGEANDSETUP/HOLDREQUIREMENTS):其中包含了被测件对于HS信号共模电压、差分电压、单端电压、共模噪声、建立/保持时间的容限测试等。(TestIDs:2.3.1,2.3.2,2.3.3,2.3.4,2.3.5,2.3.6,2.3.7.2.3.8)
(4)HS信号时序容限测试(GROUP4:HS-RXTIMERREQUIREMENTS):其中包含了对于HS和LP间状态切换时的一系列时序参数的容限测试。(TestIDs;2.4.1,2.4.22.4.3,2.4.4,2.4.5,2.4.6,2.4.7,2.4.8,2.4.9,2.4.10,2.4.11)
D-PHY的接收端测试中,需要用到多通道的码型发生以产生多通道的D-PHY的信号,码型发生器需要在软件的控制下改变HS/LP信号的电平、偏置、注入噪声、改变时序关系等。图13.13是以Agilent公司的81250并行误码仪平台构建的一套D-PHY信号的接收容限测试系统。 MIPI CSI、DSI、UFS、C-PHY、D-PHY、M-PHY概念理解;
电路结构
在高速模式下,主机端的差分发送模块以差分信号驱动互连线,高速通道上呈现两种状态,differentia-0differential-1,从属端的高速接收单元将低摆幅的差分数据通过高速比较器转换成逻辑电平。在串行转并行模块中,高速时钟对数据进行双沿采样,将高速串行数据转换成两路并行数据,交给后续数字电路处理。高速接收单元的总体电路结构。
输入终端电阻由于输入数据信号频率高,需要进行阻抗匹配,因此在比较器的差分输入端dp/dn之间跨接了100欧姆终端电阻,由开关进行控制,当系统要进行高速数据传输时,就将该终端电阻使能。由于电阻值随工艺角、温度笔变化比较大,因此在终端电阳RO(50欧姆)的其础上增加了一个电阳,分别由三位控制信号控制,可通过改变控制字改变电阻大小,使终端电阻值在各工艺角及温度下均能满足协议要求。比较器终端电阻电路结松。 嵌入式--接口--MIPI接口;DDR测试MIPI测试PCI-E测试
HS模式下时钟和数据线间的时序关系测试;DDR测试MIPI测试PCI-E测试
高速运行的物理层D-PHY的物理层由一个时钟和四条数据通路[D0:D3]组成,可以以非常高的速度运行。物理层可以支持不同的协议层。例如,摄像机捕捉的影像可以通过采用CSI-2协议的D-PHY物理层传送到处理器,再传送到应用处理器,然后通过采用DSI协议的D-PHY物理层传送到显示器。这里的CSI和DSI指D-PHY上运行的协议。每条通路上的数据在使用V1.2标准时传送速率可以达到2.5Gbps,在使用V2.1标准时可以达到4.5Gbps,从而可以传送高分辨率和高清晰度的影像。DDR测试MIPI测试PCI-E测试
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MIPI信号完整性测试是一种测试方法, 用于检查MIPI接口传输的信号是否具有稳定性和可靠性。在MIPI接口中,由于信号速率很高,需要确保信号传输的完整性和准确性,以避免数据丢失或出现错误。 MIPI信号完整性测试通常包括以下方面: 1.噪声测试:检测信号波形中的噪声水平,了解噪声对信号的影响,并确定信号噪声的能力以确保传输数据的可靠性。 2.抖动测试:测试信号波形在某些时刻出现的随机抖动,评估其对信号传输的影响,并确定抖动的性能指标。 3.失真测试:检查信号在传输过程中是否发生失真,并分析失真的原因及其对信号的影响,从而确定信号失真的能力。 通过对MI...