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SPI检测设备基本参数
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莫尔条纹技术特点:1874年,科学家瑞利将莫尔条纹图案作为一种测试手段,根据条纹形态和评价光栅尺各线纹间的间距的均匀性,从而开创了莫尔测试技术。随着光刻技术和光电子技术水平的提高,莫尔技术获得极快的发展,在位移测试,数字控制,伺服跟踪,运动控制等方面有了较广的应用。目前该技术应用在SMT的锡膏精确测量中,有着很好的优势。莫尔条纹(即光栅)有两个非常重要的特性:1).判向性:当指示光栅对于固定不动主光栅左右移动时,莫尔条纹将沿着近于栅向的方向上移动,可以准确判定光栅移动的方向。2).位移放大作用:当指示光栅沿着与光栅刻度垂直方向移动一个光栅距D时,莫尔条纹移动一个条纹间距B,当两个等间距光栅之间的夹角θ较小时,指示光栅移动一个光距D,莫尔条纹就移动KD的距离。这样就可以把肉眼无法的栅距位移变成了清晰可见的条纹位移,实验了高灵敏的位移测量。这两点技术应用在SPI中,就体现了莫尔条纹技术测量的稳定性和精细性。SPI锡膏检查机可以检查出那些锡膏印刷不良?湛江直销SPI检测设备设备厂家

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SPI在PCBA加工行业中指的是锡膏检测设备,锡膏检查(即英文SolderPasteInspection),因此简称SPI。SPI和AOI这两个PCBA检测设备都是利用光学影像来检查品质,不过SPI一般放置在锡膏印刷机后面,主要检查锡膏的印刷量、平整度、高度、体积、面积、是否高度偏差(拉尖、)偏移、缺陷破损等。在SMT贴片生产过程中,印刷焊膏的量与接缝可靠性和质量有关:过多或过少都会转化为不可靠的接缝,这对产品质量有很大的影响,是不允许的。据行业统计,在SMT组装所有工序中,有75%的缺陷是由于锡膏印刷不良造成的,因此锡膏印刷工艺的好坏很大程度上解决了SMT工艺的品质。由此可见,在SMT产线工艺中应用SPI是非常重要的一个步骤。湛江直销SPI检测设备设备厂家SPI导入带来的收益有哪些呢?

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SPI技术主流:1.基于激光扫描光学检测2.基于摩尔条纹光学检测SPI市场主流:激光扫描光学检测,摩尔条纹光学检测为主SPI应用模式:当生产线投入使用全自动印刷机时:1.桌上型离线用:新产品投产时1-20片全检;进入量品连续检查5片;2.连线型全检用:杜绝不良锡膏印刷进入SMT贴片机;3.连线印刷闭环;连线三点联网遥控;锡膏中助焊剂的构成及其作用助焊剂的作用①清洁作用→去除表面氧化膜②再氧化防止作用→防止再氧化发生③降低表面张力作用→在无铅焊接中助焊剂的效果不明显

SPI为什么会逐渐取代人工目检?现在的人工越来越贵,并且人员管理也越来越难,人工目检还会出现漏检或错检,因此在线SPI逐渐取代人工目检,达到节约成本、提高生产效率、降低误判率、提高直通率等等,在现代的EMS加工厂中,大量的SPI逐渐取代人工目检,效率也更快。SPI检测设备的优点1、解决了微型封装器件的结构性检查问题,保证生产质量;2、提高了后端测试的直通率,降低维修成本;3、随着技术的发展,SPI测试程序快捷简便,降低了生产所需的大量测试成本;SPI检测设备的缺点1.灰阶或是阴影明暗不是很明显的地方,比较容易出现误判,2.被其他零件遮盖到的元件以及位于元件底下的焊点,比较容易出现漏检人工目检+SPI自动检测结合是目前的主流方式,如果放置了SPI自动检测仪,人工目检人员岗可以设置较少人员随着电子精密化趋势发展,越来越多的使用了屏蔽罩,因此有实力的加工厂还会在多功能机前加一个炉前AOI,用来专门检测屏蔽罩下的元件贴装品质。SPI验证目的有哪些呢?

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2.2解决相移误差的新技术PMP技术中另一个主要的基础条件就是对于相移误差的控制。相移法通过对投影光栅相位场进行移相来增加若干常量相位而得到多幅光栅图来求解相位场。由于多幅相移图比单幅相移图提供了更多的信息,所以可以得到更高精度的结果。传统的方式都依靠机械移动来实现相移。为达到精确的相移,都使用了比较高精度的马达,如通过陶瓷压电马达(PZT),线性马达加光栅尺等方式。并通过大量的算法来减少相移的误差。可编程结构光栅因为其正弦光栅是通过软件编程实现的,所以其在相移时也是通过软件来实现,通过此种技术可以使相移误差趋向于“0”,提高了量测精度。并且此技术不需要机械部件,减少了设备的故障几率,降低机械成本与维修成本。AOI的发展需求集成电路,欢迎来电咨询。湛江直销SPI检测设备设备厂家

SPI检测设备支持热插拔,提高系统可靠性。湛江直销SPI检测设备设备厂家

AOI检测误判的定义及存在原困、检测误判的定义及存在原困、检测误判的定义及存在原困误判的三种理解及产生原因可以分为以下几点:1、元件及焊点本来有发生不良的倾向,但处于允收范围。如元件本来发生了偏移,但在允收范围内;此类误判主要是由于阙值设定过严造成的,也可能是其本身介于不良与良品标准之间,AOI与MV(人工目检)确认造成的偏差,此类误判是可以通过调整及与MV协调标准来降低。2、元件及焊点无不良倾向,但由于DFM设计时未考虑AOI的可测性,而造成AOI判定良与否有一定的难度,为保证检出效果,将引入一些误判。如焊盘设计的过窄或过短,AOI进行检测时较难进行很准确的判定,此类情况所造成的误判较难消除,除非改进DFM或放弃此类元件的焊点不良检测。3、由于AOI依靠反射光来进行分析和判定,但有时光会受到一些随机因素的干扰而造成误判。如元件焊端有脏物或焊盘侧的印制线有部分未完全进行涂敷有部分裸露,从而造成搜索不良等。并且检测项目越多,可能造成的误报也会稍多。此类误报属随机误报,无法消除。湛江直销SPI检测设备设备厂家

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