企业商机
自动测试设备基本参数
  • 品牌
  • 从宇
  • 型号
  • CY-CS
  • 加工定制
自动测试设备企业商机

电子电器产品的高低温测试分为高低温存储测试和高低温运行测试。高低温存储是产品不上电,在非工作状态下进行测试。高低温运行是给产品供电,在产品工作状态下进行测试制定测试条件时可参考产品实际的存储环境、运输环境及使用环境等。常做的温度是-30至70°C,温度保持时间2小时至8小时不等,变温时长一般半小时以内,循环周期4至20个周期不等。。高低温测试对测试的具体温度、高温和低温各自保持的时间、升温和降温的时间、测多少个周期等没有固定的标准,委托方可以自己制定企业内部标准,或按客户要求制定测试条件。温补晶振自动补偿测试设备找南京从宇!江宁区多功能自动测试设备定制价格

自动测试设备

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自动测试设备用于半导体行业中。半导体生产过程中,一个容易让人忽视且贯穿半导体设计、制造和封装全程的环节,就是半导体测试,即通过测量半导体的输出响应和预期输出并进行比较,以确定或评估芯片功能和性能。特别是越高级、越复杂的芯片对测试的依赖度越高。一般来说,每个芯片都要经过两类测试:参数(包括DC和AC)以及功能测试。主要包括三类:自动测试设备ATE、探针台、分选机。其中测试功能由测试机实现,而探针台和分选机实现的则是机械功能,将被测晶圆、芯片拣选至测试机进行检测。

自动称重分选机。产品通过自动称重量,然后根据重量将不良品推出去。以其中一个型号为例规格如下:比较大量程2000g称重范围5g-2000g比较高精度注1±0.2g很小刻度0.1g皮带线速度注223-80m/min(可调)皮带宽度220mm台面高度注3670-900±50mm(标准)输送方向正对屏幕(左至右)检测产品尺寸长≤300mm宽≤220mm高≥1mm操作界面7寸彩色多功能LCD触摸屏操作方式触摸式操作预设规格100条剔除装置推杆式数据输出USB2.0(标准)电源AC220V50Hz功率100W重量约150kg机器外形尺寸L1450mm*W830mm*H1270(台面高度750mm)外接气源压力0.6-1mpa气压接口Φ8mm机器结构不锈钢(SUS304)防护等级IP54温补晶振自动测试设备用从宇的好用!

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高低温测试又叫作高低温循环测试,是产品环境可靠性测试中的一项。基本上所有的产品都是在一定的温度环境下存储保存,或者工作运行。有些环境下的温度会不断变化,时高时低。比如在有些温差大的地区的白天黑夜。或者产品在运输、存储、运行过程中反复进出于高温区、低温区。这种高低温环境高温时可能会达到70°C度以上甚至更高,低温时温度可能会达到-20°C度以下甚至更低。这种不断变化的温度环境会造成产品的功能、性能、质量及寿命等受到影响,会加速产品的老化,缩短产品的使用寿命。江宁区多功能自动测试设备定制价格

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