可靠的电子组装产品必须能在不同的环境中经受住各种影响因素的考验,例如:热、机械、化学、电等因素。测试每一种考验因素对系统的影响,通常以加速老化的方式来测试。这也就是说,测试环境比起正常老化的环境是要极端得多的。此文中的研究对象主要是各种测试电化学可靠性的方法。IPC将电化学迁移定义为:在直流偏压的影响下,印刷线路板上的导电金属纤维丝的生长。这种生长可能发生在外部表面、内部界面或穿过大多数复合材料本体。增长的金属纤维丝是含有金属离子的溶液经过电沉积形成的。电沉积过程是从阳极溶解电离子,由电场运输重新沉积在阴极上。在电路与组装材料发生的反应过程中,随着时间的推移而逐渐形成这种失效。当金属纤维丝在线路板表面以下生长时,称为导电阳极丝或CAF,本文中不会讨论这种情况,但这也是一个热门话题。当电化学迁移发生在线路板的表面时,它会导致线路之间的金属枝晶状生长,比较好使用表面绝缘电阻(SIR)进行测试。测试配置灵活:每组板卡可设置不同的测试电压,可同时完成多任务测试。湖北pcb离子迁移绝缘电阻测试服务电话
类型1~2000V通道数16-256测试组数1-16组工作时间1-9999小时偏置电压1-2000VDC(步进)测试电压1-2000VDC(步进)电阻测量范围1x104-1x1014Ω电阻测量精度1x104-1x1010Ω≤±2%1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤20%测试间隔时间1-600分钟测试速度20mS/所有通道测试电压稳定时间1-600秒(可设置)高阻判定阀值1x106-109Ω短路保护电流阀值5–500uA保护电阻1MΩ测试电缆线材耐高温特氟纶线(≧1014Ω,200℃)长度标配,office软件、数据库GWHR-256产品优势:1、精度高:优于同业产品;2、测试速度快:20ms/所有通道;3、结构、配置灵活:板卡设计,可选择16路*N(1≥N≤16);4、测试配置灵活:每组板卡可设置不同的测试电压,可同时完成多任务测试;5、容错机制强:任何一组板卡发生故障不影响其它通道的正常测试;6、接口友好:软件可定制,或开放数据接口,或接入实验室LIMS系统;7、操作方便:充分考虑实验室应用场景,方便工程师实施工作。 湖北pcb离子迁移绝缘电阻测试服务电话接口友好:软件可定制,或开放数据接口,或接入实验室LIMS系统。
在确定为CAF失效之前,应该确认连接线两端的电阻是不是要小于菊花链区域的电阻。做法是将菊花链附近连接测试线缆的线路切断。所有的测试结束后,如果发现某块测试板连接线两端的电阻确实小于菊花链区域的电阻,那么这块测试板就不能作为数据分析的依据。常规结果判定:1.96小时静置后绝缘电阻R1≤107欧姆,即判定样本失效;2.当**终测试绝缘电阻R2<108欧姆,或者在测试过程中有3次记录或以上出现R2<108欧姆即判定样本失效。广州维柯信息技术有限公司的高低阻(CAF/TCT)测试系统可以做到有效电压测试。
电化学迁移是PCB组件常见的失效模式。无论是在设计过程开发阶段,还是在生产过程、控制过程中,都需要充分的测试。在电子组装行业,有许多可用的方法可以来评估组件表面的电化学迁移倾向。根据行业标准测试将继续为SIR。这是因为该测试**接近组件的正常使用寿命中导致电化学迁移的条件,而且它考虑了所有促进电化学迁移机制的四个因素之间的相互作用。当测试集中在一个或一些因素上时,例如测试离子含量,它们可能表明每个组件上离子种类的变化,但它们不能直接评估电化学迁移的倾向。在铜、电压、湿度和离子含量之间的相互作用中存在着一些关键因素,电解会导致枝晶生长,这将继续推动测试的最佳实践朝着直接测试表面绝缘电阻的方向发展。**重要的是将SIR测试的条件尽可能地与操作条件相匹配。一旦装配过程得到验证和认可,局部萃取和离子色谱测试等工具和方法在维持离子含量水平以及在确定来料和工艺控制的变化方面都是有用的。印刷电路板的电极之间会出现离子转移,出现绝缘劣化的现象。通常发生在PCB基板中。
此外,失效电阻表面还存在少量的乙酸根离子(CH3COO-),由于工艺生产中引入的有机弱酸减小了溶液的pH、提高了溶液的导电率,促进了金属阳极的溶解过程,加大金属阳离子的浓度而提升枝晶的生长速率,造成了电阻的短路失效。从表1离子色谱结果可以得出原工艺中生产使用的SnPb焊料存在较高的氯离子(Cl-),说明SnPb焊料中的助焊剂中存在较高的氯离子,加速了电阻表面发生焊料的电化学迁移。参考国际电子工业联接协会标准表面绝缘电阻手册IPC-TM-6502.3.28.2[4],“/”表示未检出,其含量低于方法检出限,方法检出限为0.003mg/cm2。SIR表面绝缘电阻测试的目的之一:基于可靠性的产品标定。湖北pcb离子迁移绝缘电阻测试服务电话
测试电压可在1.0-500V(2000V)之间以0.1V步进任意可调。湖北pcb离子迁移绝缘电阻测试服务电话
确认适当的偏置电压已经被加载在样品上进行周期性测试。为了比较不同内层材料和制程的耐CAF性能,使用100V直流偏压的标准CAF测试条件。为了确认测试结果与实际寿命之间的关系,第二个偏置电压条件需要选择给定的最高工作电压的两倍。当一个较小的偏置电压不能有效地区别更多不同的耐CAF材料和制程时,更高的偏置电压由于会线性地影响失效时间,应该被避免采用。这是因为过高的偏置电压会抵消掉相对湿度的影响,而相对湿度由于局部加热的原因是非常重要的失效机制部分。湖北pcb离子迁移绝缘电阻测试服务电话
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