企业商机
辐射仪基本参数
  • 产地
  • 中国
  • 品牌
  • 上海见驰
  • 型号
  • JC-IDNA-25,JC-5000,JC-NAI-300
  • 是否定制
辐射仪企业商机

仪器功能特点

-探测器采用大尺寸的NaI闪烁晶体,灵敏度高,响应速度快

-主机内置传感器,用于监测工作人员周围的接受的剂量

-测量时间可选,根据需要从1~120秒间选择

-采用国际统一单位nGy/h(环境级)和nSv/h(防护级)

-带背光功能的大尺寸点阵LCD液晶显示器

-大容量带充放电保护功能的锂电池

-实时显示电池电量,欠压报警功能

-轻触式按键

-剂量率报警功能

-探测器故障报警功能

-实时时钟显示

-过载报警功能

-数据保存和查看功能

-外壳采用铝镁合金

-探头带防滑手柄,主机固定在探头上。

-主机和探头采用进口连接器连接

-带可编程的声音,闪光报警功能

-带USB接口,数据可导出(可选) 平行板雪崩室是由两平行平面电极构成,并工作在正比放电区的气体电离探测器。山东辐射仪

辐射shigu是指放射性同位素和射线装置在生产、使用、运输、处置等过程中,由于管理失误或操作不当等原因,发生的人员超剂量照射、放射源丢失、被盗、失控及其引起的放射性污染shigu,导致工作人员、公众人员受到意外的、非自愿的异常照射。为加强辐射shigu的管理,及时有效地处理辐射shigu,减轻shigu造成的不良后果,辐射shigu的管理实行“分级管理与报告、立案调查制度”辐射shigu的分级及放射源的分类,放射源主要分为五个类别,即I类至V类源。山东辐射仪用具有高原子序数、低净杂质浓度和宽的禁带宽度的化合物半导体单晶制成的探测器称为化合物半导体探测器。

剂量约束是对源不可造成的个人剂量预先确定一种限制,它是与源有关的,用作对所考虑进行防护和安全*you化时的约束条件。对于职业照射,剂量约束是一种与源相关的个人剂量值,用于限制*you化过程所考虑的选择范围。对于公众照射,剂量约束是公众成员从一个受控源的计划运行中接受年剂量上限。在实践过程中,对于任何一个特定源,其剂量约束和潜在照射危险约束应不大于审管部门对这类源的规定或认定值。当前一般采用的剂量约束值是:对于职业照射为5mSv/年;对于公众照射为0.1mSv~0.3mSv/年。

对控制区的要求如下:1采用实体边界划分控制区,如果该措施不现实时,当然也可采用其它适当的手段;2应在控制区的进出口或其它适当位置设置警告标志,并给出相应的辐射水平和污染水平的指示;3制定职业防护与安全措施,包括适用于控制区的规则与程序;4运行行政管理程序(如进入控制区的工作许可证制度)和实体屏蔽(包括门锁和联锁装置)限制进入控制区;5在控制区的入口处按需要可提供防护衣具,监测设备和个人衣物贮存柜;6按需要在控制区出口处提供皮肤和工作服监测仪,被携出物品监测设备,冲洗或沐浴设施,以及被污染的防护衣具的贮存柜;7定期审查控制区的实际情况,以确定是否必要改变该区的防护手段、安全措施或该区的边界。


电流型半导体探测器是用于探测脉冲辐射源,输出脉冲电流的半导体探测器。

α粒子为带电的重粒子,所以探测这种粒子的常见探测器有:1.栅网电离室测量的立体角为2π,适合于大面积样品的测量,特别是弱放射性α样品测量;但装置较复杂、成本高。2.正比计数器这种探测器结构简单、使用方便,但能量分辨比电离室差。3.闪烁探测器所用的闪烁体一般选用ZnS(Ag)晶体,也可用玻璃闪烁体。4.半导体探测器半导体α探测器目前所配用的探测器多为AuSi面垒和SiPIP,以及Si(Li)探测器。之所以得到广泛应用是因它有很高的能量分辨率,对5MeV的α粒子,可小于,而闪烁谱仪为≥3%(对150keV)。对面垒型半导体α谱仪重要的是选择比较好的工作电压,因为电压太低会使载流子速度变慢,导致能量分辨变差;电压太高,会增大噪声也使能量分辨变差。比较好的工作电压要由实验来确定。5.固体径迹探测器使用云母、塑料等一类材料,当α粒子打在这类材料上时,沿路径会产生损伤,经过化学处理后,这些损伤扩大成可在显微镜下观测的空洞;通过测量这些空调达到探测α粒子的目的。高气压电离室一种内充高气压气体的电离室。山东辐射仪

平面型高纯锗半导体探测器是一种典型的结型半导体探测器。山东辐射仪

β和γ射线束通过吸收体后被减弱的程度可用下式表示:式中I0、I分别为射线束通过吸收体前后的强度值,ρ和d为吸收体的密度和厚度值,μm为吸收体对该射线束的质量吸收系数。测得射线束强度变化,即可由上式确定吸收体的厚度或密度。其应用有透射式同位素密度计、厚度计和料位计等。射线可使感光胶片感光,根据透过吸收体的射线使感光胶片的感光情况显示,可以进行射线照相探伤。散射β射线、γ射线与物质相互作用会产生散射,其散射角甚至可大于90°,散射的程度与散射体的厚度、密度及原子序数有关。根据这一效应建立的反散射测量仪,可用于测定材料的厚度和密度,特别适用于涂层厚度的测量。快中子与轻元素碰撞,能量迅速降低,待分析材料中如含氢丰富,中子慢化程度就高。根据此原理建立了中子测水分和中子测井(石油)技术。活化低能β粒子与适当的磷光体作用可以发光,根据这种效应已经制成了氚发光粉和氚灯。低能光子可以激发元素发射特征X射线,利用配有同位素低能光子源的X射线荧光分析仪可进行元素分析。放射性核素发射的α粒子和高能γ射线,可诱发轻元素原子核发生(α,n)、(γ,n)核反应。利用这些核反应制成的中子源可用于元素的中子活化分析。山东辐射仪

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