如果您想要研究晶体结构，徕卡偏光显微镜将是您的较好选择。无论是矿物、塑料和聚合物、药物药品或燃料和接合剂，徕卡正置偏光显微镜都能帮助您观察到感兴趣的内容，完成您的研究或质量控制任务。徕卡正置偏光显微镜采用LED照明，较卤素照明优势更加明显：它比卤素照明消耗的能源少，而且无需更换，不会导致机器停机LED使用寿命长达25,000小时LED为样... 【查看详情】

徕卡偏光显微镜是徕卡显微镜系列中的一种，偏光显微镜是一种在其光学系统中包含偏振器的显微镜，它能够显示和分析材料的各种光学性质，如折射率、双折射、吸收、散射等。徕卡品牌通常与高质量、高级别的光学设备相关联，因此徕卡偏光显微镜被认为是一种高精密的设备。徕卡偏光显微镜主要特点：1、研究级全手动式专业偏光显微镜，适用于岩石薄片、玻璃、陶瓷、塑料、... 【查看详情】

目前制造型企业的品检方面主要是靠人工测量。人工测量方面一般用的是千分尺，游标卡尺等检测工具，对检测人员的经验和学历方面要求也较高。测量时由于卡尺和测量人员的原因，经常出现误差和失误。还经常需要对检测人员进行培训，比较费时费力。一台一键式自动影像测量仪器应具备以下几点要求1.满足测量空间需求：影像测量仪首先要能够满足测量空间需求... 【查看详情】

影像测量仪的测量误差是指影像测量仪本身所固有的误差。造成仪器的误差是多方面的，在仪器的设计、制造和使用的各个阶段都可能产生误差，分别称为测量仪的原理误差、制造误差、运行误差。2、制造误差属于影像测量仪的制造误差的是：导向机构产生的误差、安装误差等。导向机构产生的误差对影像测量仪来说主要是机构误差中的直线运动定位误差。影像测量仪... 【查看详情】

徕卡偏光显微镜简要描述：徕卡偏光显微镜是徕卡显微镜系列中的一种，偏光显微镜是一种在其光学系统中包含偏振器的显微镜，它能够显示和分析材料的各种光学性质，如折射率、双折射、吸收、散射等。徕卡品牌通常与高质量、高级别的光学设备相关联，因此徕卡偏光显微镜被认为是一种高精密的设备。产品型号：DM2700P厂商性质：代理商DM2700P徕卡偏光显微镜... 【查看详情】

选购徕卡显微镜指南徕卡显微镜已经成为实验室和研发室内常用的分析仪器，但是对于经常使用徕卡显微镜的专业人士来说，如何轻松的选购一台满足自己科研需求并且性价比较高的徕卡显微镜是一件头疼的事情。以往，许多用户在向我们咨询的时候大都只能算是单纯的徕卡显微镜询价，而对徕卡显微镜的选购知识却是了解的不多，上海茂鑫工程师依据多年的咨询经验为广大... 【查看详情】

徕卡显微镜操作简单，高对比度，可以接装照相、摄影装置。在连接多达5个物镜的基础上们可以轻松实现多倍数的观察操作，便于操作，可以实现快捷高效的研究分析。这是一台长寿命、高质量的显微镜，是基础实验室和教学显微镜的理想选择。适用于病理学、细胞学与血液学研究，它具有电动物镜转盘、聚光顶镜、自动光线强度调节装置与可选脚踏开关。这种直观的显微镜改善了... 【查看详情】

茂鑫影像测量仪的优点性1、影像测量仪摄像镜头变大倍数可从20几倍调至180几倍等，假如投影仪想改变大倍数却要一个一个摄像镜头去换且要买许多的摄像镜头2、可把影像输出到电子计算机选用手机软件测绘工程存盘。可开展照相、复印、储存。3、可检验被测物块的上表层的埋孔、管沟等规格。可清晰地见到产品工件表层上图像和色调。4、投影仪能够测量的产品工件影... 【查看详情】

DM8000M徕卡金相显微镜主要用来观察金相组织的专业仪器，是专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。DM8000M系列采用高产能8寸晶元检查及缺陷分析系统，只要一指按键您就可以切换放大倍率，照明模式或相衬模式。徕卡金相显微镜DM8000M提供了全新的光学设计，如理想的宏观检查模式或者倾斜紫外光(OUV,随检UV选择)不但提高... 【查看详情】

影像测量仪是基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术，具有点哪走哪自动测量、CNC走位自动测量、自动学习批量测量的功能，影像地图目标指引，全视场鹰眼放大等优异的功能。同时，基于机器视觉与微米精确控制下的自动对焦过程，可以满足清晰影像下辅助测量需要，亦可加入触点测头完成坐标测量。支持空间坐... 【查看详情】

徕卡体视显微镜简要描述：M165C徕卡体视显微镜工作结果十分准确、可靠，轻松采集重要细节的图像，可提高生产线或品管部门效率、优化光学检查，符合人体工学的显微镜工作空间，让您舒适工作。徕卡体现显微镜的热补偿焦距稳定技术，即双金属片反向膨胀抵消技术，抵消机体由于长时间热效应带来的调焦面移动。M165C徕卡体视显微镜特点：1、10倍目镜加1倍物... 【查看详情】

而成像歧变的探测误差则采用标准圆在仪器视场中完整成像，圆形影像直径占视场边长的约2/9，并且对影像在视场内9个点进行测量，计算其圆心坐标的变化。成像歧变的探测误差反映了成像光路造成的歧变、成像元件刻划不均匀造成的误差，坐标测量机运动误差等对测量结果造成的影响。由图知道，照明亮度、彗差和阈值等均会对测量结果产生影响。使用规定的参数测量同样大... 【查看详情】